Auch dieses Jahr ist die Forschungsgruppe High-Performance Vision Systems/ AIT Center for Vision, Automation & Control auf der Messe Control - der Internationalen Fachmesse für Qualitätssicherung in Stuttgart - dabei.
Als Teil der Sonderschau »Berührungslose Messtechnik« des Fraunhofer-Geschäftsbereich Vision bei der Messe Control zeigen die Forscher:innen des AIT ihren neuen Lösungsansatz ici:microscopy zur simultanen 2D und 3D Inspektion von Oberflächenstrukturen. Mit seiner patentierten Mikroskop-Optik ermöglicht das Mikroskop, Material- und Produktionsfehler im µm Bereich sichtbar zu machen. Seine Anwendungen sind vielseitig so z.B. in der Elektronikfertigung, Halbleiterproduktion, im Sicherheitsdruck u.v.m. ici:microscopy wurde kürzlich mit dem inVISION Award 2023 ausgezeichnet.
Control 2024
23. bis 26. April 2024
Messe Stuttgart
Halle 8, Stand 8202
www.vision.fraunhofer.de/de/veranstaltungen/messe/sonderschau/control-sonderschau-2024.html
Für mehr Informationen kontaktieren Sie bitte Iman Kulitz/VAC iman.kulitz@ait.ac.at