Auf der diesjährigen International Conference on Computer Vision (ICCV) in Paris stellte das AIT seine neuesten Technologien für die optische Qualitätsinspektion vor. Die Forschungsgruppe High-Performance Vision Systems am AIT Center for Vision, Automation & Control hat dabei ihre Expertise in der Hochleistungs-Bildverarbeitung unter Beweis gestellt - insbesondere im Bereich anspruchsvoller, mikroskopischer Inspektionsaufgaben mit hohen Prüfgeschwindigkeiten und schwierigen Materialien.
Unter dem Titel „Inline Microscopic 3D Shape Reconstruction" präsentierten die AIT Forscher:innen das optische Inline-3D-Bildgebungssystem ici:microscopy, welches darauf ausgelegt ist, zukünftig in der industriellen Qualitätssicherung für die Analyse von Objekten bis in den mikroskopischen Bereich eingesetzt zu werden. Der Demonstrator des 3D Mikroskops war ein Publikumsmagnet und überzeugte sowohl die Konferenzteilnehmer:innen als auch die Jury und wurde mit dem ICCV 2023 Best Demo Award ausgezeichnet.
Der innovative Ansatz von ici:microscopy ist zukunftsweisend für die industrielle Qualitätskontrolle und setzt einen neuen Standard für präzise und effiziente 3D-Prüfungen auf Mikroebene.
„ici:microscopy ist das Ergebnis eines Bildverarbeitungs-Forschungsprojekts das zum Ziel hat, präzise 3D-Rekonstruktionen auf Mikroebene für industrielle Inspektionsanwendungen zu ermöglichen. Unser System kombiniert Lichtfeld mit photometrischem Stereo, um gleichzeitig detaillierte 3D-Oberflächenstrukturen und 2D-Objekttexturen zu erfassen. Die Integration von Lichtfeld und photometrischem Stereo bietet einen ganzheitlichen Ansatz zur 3D-Rekonstruktion“, erklärte Doris Antensteiner die Entwicklung und die zugrunde liegende Technologie des Mikroskops. Lukas Traxler zur Funktionsweise von ici:microscopy: „Mit ausgewählten Proben, die repräsentativ für schwierige Prüfobjekte stehen wie z.B. Produkte mit metallischen und/oder glänzenden Oberflächen, Ball-Grid-Arrays (BGAs) und andere Elektronikkomponenten sowie Banknoten als Beispiele für Sicherheitsdrucke, zeigen wir verschiedene industrielle 3D-Scan-Szenarien. Diese Proben werden bei unserem Demonstrator auf einem Translationstisch platziert, um die Bewegung des Objekts während der Inspektion zu simulieren. Das System scannt die Objekte mit einem Punkt-zu-Punkt-Abstand von 700 nm und einer Prüfgeschwindigkeit von bis zu 12 mm pro Sekunde, was 39 Millionen 3D-Bildpunkten pro Sekunde entspricht.“ „Unser Inline-3D-Mikroskop zur Oberflächenprüfung kann zur mikroskopischen Inspektion in verschiedenen Industriezweigen eingesetzt werden. Es erreicht ein hohes Maß an Präzision und Effizienz bei Inspektionsprozessen und hat ein breites Spektrum an praktischen Anwendungen“, ergänzt Christian Kapeller.
Alle drei Wissenschaftler:innen forschen am AIT Center for Vision, Automation & Control im Bereich der Bildverarbeitung.
Wir gratulieren ihnen und dem gesamten Team, herzlich zu diesem herausragenden Erfolg!
Zusätzliche Infos hier:
www.rsipvision.com/ICCV2023-Wednesday/11/
https://www.rsipvision.com/ComputerVisionNews-2023November/12/
iccv2023.thecvf.com