High-performance durch und durch

Veränderungen in den Produktionsprozessen und besondere Anforderungen an Qualität und Ressourceneffizienz treiben die Entwicklung von innovativen Prüfansätzen voran. Auf der Optical & Digital Document Security (ODDS) Konferenz in Wien und der Messe Control in Stuttgart präsentierte das AIT Center for Vision Automation Control seine neuesten Systeme für die optische Qualitätsinspektion. Denn wenn es um die Inspektion von Oberflächenmerkmalen mit höchsten Prüfgeschwindigkeiten und größter Fehler- und Prozessicherheit bei selbst schwierigen Materialeigenschaften geht, hat das AIT die Nase vorn.

Das Hotel Savoyen im revitalisierten Gebäude der ehemaligen k.u.k. Hof- und Staatsdruckerei im 3. Wiener Bezirk bot die geeignete Kulisse für die diesjährige Konferenz Optical & Digital Document Security (ODDS). Sie ist DIE internationale Fachkonferenz für physische, digitale und virtuelle Dokumentensicherheit (Banknoten, Reisepässe, ID Karten, etc.). "Wir präsentieren ein neuartiges Hochgeschwindigkeits-3D-Bildgebungssystem, das sich perfekt für die mikroskopische Inline-Inspektion von Sicherheitsmerkmalen eignet. Mit diesem innovativen Ansatz wird bei einer  Erfassungsgeschwindigkeit von 15mm/s eine Tiefengenauigkeit von 2µm und eine laterale Abtastung von 700nm/Pixel erreicht“, erklärt Laurin Ginner, der mit an der Erkennung von 3D-Sicherheitsmerkmalen mit Hilfe von Hochgeschwindigkeits-Inline-Computermikroskopie forscht.

Um die schnelle 3D Prüfung von anspruchsvollen Oberflächen ging es bei unserer Präsentation im Rahmen der Messe Control, der internationalen Fachmesse für Qualitätssicherung in Stuttgart. Das Forschungsteam stellte hier xposure:photometry vor. Der schnelle 3D-Oberflächenscanner wurde für die zuverlässige Oberflächendefekterkennung von bewegten Objekten entwickelt. “xposure:photometry kann sowohl für industrielle Inline-Inspektion aber auch zur Inspektion von Infrastruktur wie Schienen eingesetzt werden. Der Scanner kombiniert sehr schnelle photometrische Stereobildgebung (PS) mit einer Smart-Kamera, um trotz hoher Inspektionsgeschwindigkeit selbst kleinste 3D-Oberflächendefekte hervorzuheben und sie prozesssicher von Pseudodefekten wie z.B. Verschmutzungen zu unterscheiden. Die photometrische Verarbeitung der Bildsequenzen erfolgt direkt auf dem FPGA der Kamera, dadurch ist für die Berechnung der Oberflächennormalen keine zusätzliche Prozessoreinheit mehr notwendig“, so Petra Thanner, Expertin für hochperformante Vision Systeme am AIT.