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Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
- /laboratories/rem
Dispersoidquantifizierung Texturanalyse mittels EBSD Technische Daten Hersteller/Modell Tescan Mira 3 Schottky-Feldemissions-Elektronenquelle höchste Auflösung Detektoren 4-Quadranten-Halbleiter-Rückst [...] org/10.1016/j.matchar.2018.01.049 Österreicher, J. A., Kumar, M., Schiffl, A., Schwarz, S., Hillebrand, D., & Bourret, G. R. (2016). Sample preparation methods for scanning electron microscopy of homogenized
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