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Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

  • Analyse der Mikrostruktur von Leichtmetallen bis in den Nano-Bereich

  • Untersuchung der lokalen chemischen Zusammensetzung, Kristallstruktur und -orientierung von Grundmaterial und intermetallischen Phasen (EDX, EBSD)

©Tescan

Unsere Services

  • Metallographische Untersuchungen
  • Schadensanalyse
  • Phasenidentifikation
  • Dispersoidquantifizierung
  • Texturanalyse mittels EBSD

 

Technische Daten

Hersteller
  • Tescan
Schottky-Feldemissions-Elektronenquelle
  • höchste Auflösung
Detektoren
  • 4-Quadranten-Halbleiter-Rückstreuelektronendetekor
  • Everhart-Thornley-Detektor
  • InLens-Sekundärelektronendetektor
  • EDAX Octane Elect EDX-Detektor (energiedispersive Röntgenspektroskopie, 70 mm² SDD)
Hikari Super EBSD-Kamera
  • Elektronenrückstreubeugung