Direkt zum Inhalt
Symbolfoto: Das AIT ist Österreichs größte außeruniversitäre Forschungseinrichtung

VISION

Die Weltleitmesse VISION ist der Treffpunkt der industriellen Bildverarbeitungs - Branche und wichtiger Ankerpunkt für ein weltweites Publikum. Internationale Unternehmen stellen hier ihre neuesten Innovationen und Weiterentwicklungen in Sachen industrielle Bildverarbeitung vor. 2024 ist das AIT Center for Vision, Automation & Control (VAC) wieder dabei.

VAC @ VISION 2022

Unsere Expert*innen präsentieren Ihnen folgende Technologien am AIT-Stand 8C50 (Halle 8):

xposure:photometry  |  ICI:microscopy  |   TinyScan360°  |   ICI:inspect

 

xposure:photometry – High Speed Photometry

High-speed inline 2D & 3D Oberflächenscanner

Das innovative photometrische Stereo Aufnahmeverfahren ist für den Einsatz in der industriellen Qualitätskontrolle ebenso geeignet wie zur Inspektion von Infrastruktur – wie z.B. Schienen. Das System besteht aus der AIT xposure high-speed Zeilenkamera, AIT xposure:flash für schnelle Beleuchtungssequenzen mit unterschiedlichen Beleuchtungsrichtungen sowie aus maßgeschneiderten Algorithmen in einem FPGA-Modul zur Hochgeschwindigkeitsbildverarbeitung.
Das AIT Verfahren gehört zu den 4 Top Technologien des diesjährigen Vision Awards.

ICI:microscopy - Inline Computational Imaging Microscopy

Inline 2D & 3D Microscopy

Durch eine patentierte Mikroskop-Optik, und eine darauf abgestimmte Dome-Beleuchtung, können die Inline Computational Imaging (ICI) – Algorithmen von ICI:inspect auch für mikroskopische inline Inspektion eingesetzt werden. Inspektionsaufgaben, welche extrem hohe Auflösungen bis hinunter zu wenigen Micrometern erfordern, lassen sich damit realisieren. ICI:microscopy zeichnet sich im Vergleich zu anderen optischen 3D Mikroskopieverfahren durch eine besonders schnelle simultane 2D und 3D Aufnahme aus.  Daher eignet sich das Verfahren besonders gut für die Inspektion bewegter Objekte.

TinyScan360° – 3D Sensorik für die Vermessung im mm Bereich

Das revolutionäre AIT 3D Stereo - Scansystem mit einem Design-Durchmesser von 3 mm eignet sich speziell für die Vermessung, Visualisierung und Modellierung kleinster Objekte wie z.B. Rohre und Bohrlöcher mit einem Durchmesser > 5mm.  Die skalierbare und innovative Technologie, bestehend aus der Kombination eines optisch-kontrastreichen Projektors mit einer Kamera, ermöglicht selbst bei Objekten mit wenig Struktur und unterschiedlichen Reflexionseigenschaften, eine zuverlässige, schnelle und detaillierte Erfassung der Szene.

ICI:inspect - Inline Computational Imaging

Inline 2D & 3D Inspektion

Inline Computational Imaging (ICI) ist eine preisgekrönte AIT Technologie für die simultane 2D und 3D Inspektion bewegter Objekte. ICI kombiniert die Vorteile aus Lichtfeld und Photometrie in einer kompakten und robusten Lösung. Durch seine  geringe Systemkomplexität, weitgehende Unabhängigkeit von Reflexionseigenschaften und Oberflächenstruktur der Prüfobjekte sowie der hoch performanten Bildverarbeitung hat sich das Verfahren gerade in herausfordernden Inspektionsaufgaben bewährt.

Besuchen Sie unsere

SCIENTIFIC VISION DAYS 2022

Messe VISION Stuttgart, 4.-6.Oktober 2022, Stand 8C50 

Mit unserer wissenschaftlichen Vortragsreihe bieten wir Spitzentechnologien aus dem Bereich Machine Vision eine besondere Bühne.

Als Teils des Programms der Messe Vision geben internationale Expert:innen aus Industrie und angewandter Forschung Einblicke in ihre aktuellen Forschungsarbeiten. Die Scientific Vision Days werden vom AIT Austrian Institute of Technology organisiert.

Sie wollen mehr erfahren? Schauen Sie vorbei. Hier finden Sie das Programm

 

Broschüren zum Herunterladen

ici:microscopy
(Englisch)

Complex Dynamical Systems
(Englisch)

Assistive & Autonomous Systems
(Englisch)

xposure:photometry
(Englisch)

TinyScan360°
(Englisch)

Inline Computational Imaging
(Englisch)

High-Performance Vision Systems for Automation of Complex Production Processes
(Englisch)

High-Performance Vision Systems for Currency & Identity
(Englisch)

xposure:camera 
(Englisch)

xposure:flash
(Englisch)

Deep Learning
(Englisch)