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Symbolfoto: Das AIT ist Österreichs größte außeruniversitäre Forschungseinrichtung

AIT Wissenschaftler gewinnt internationalen Preis für beste Dissertation auf dem Gebiet der Stereologie und Bildanalyse

06.06.2019

Dr. Johannes Österreicher, Scientist am LKR Leichtmetallkompetenzzentrum Ranshofen, gewinnt den ersten Preis bei der PhD competition 2019 der International Society for Stereology and Image Analysis (ISSIA).

Dieser Preis wird alle zwei Jahre vergeben und würdigt die international beste Dissertation auf dem Gebiet der Stereologie und Bildanalyse. Stereologie ist die räumliche Interpretation von Schnitten.

In seiner Doktorarbeit "Characterization of Al-Mg-Si Alloys for Automotive Safety Parts" beschäftigte sich Dr. Österreicher mit der quantitativen Rasterelektronenmikroskopie nanoskaliger Teilchen, welche in festen Medien verteilt sind. Solche Partikel-Matrix-Systeme sind in Materialwissenschaft, Biologie und vielen anderen wissenschaftlichen Disziplinen relevant. Dr. Österreicher führte eine Methode ein, welche die Rekonstruktion der dreidimensionalen Größenverteilung solcher Teilchen aus Rückstreuelektronenbildern ermöglicht. Außerdem entwickelte er eine neue Präparationsmethode für Aluminiumlegierungen, welche den Kontrast von Mg-Si-Ausscheidungen stark verbessert und damit die erreichbare Auflösung deutlich erhöht.

Überreichung des Awards

Photo by Ales Kladnik

Die Arbeit wurde von 2014 bis 2018 im Rahmen des FFG-Projektes AMOREE (Nr. 843537) am AIT und der Universität Salzburg in enger Zusammenarbeit mit dem Industriepartner Hammerer Aluminium Industries (HAI) durchgeführt.

Dr. Österreicher präsentiert seine Arbeit auf Einladung der ISSIA am 29. Mai 2019 im Rahmen des 15th International Congress for Stereology and Image Analysis in Aarhus, Dänemark, und nimmt den Preis entgegen.

Das gesamte Forschungsteam freut sich mit ihm über diese Ehrung und ist stolz auf diesen Erfolg!

 

Paper:
Österreicher, J. A., Grabner, F., Schiffl, A., Schwarz, S., & Bourret, G. R. (2018). Information depth in backscattered electron microscopy of nanoparticles within a solid matrix. Materials Characterization, 138, 145-153. doi.org/10.1016/j.matchar.2018.01.049