Nano Scale Analysis & Modelling
Unsere numerische Simulationskapazität gewährleistet dabei zeitnahe Realisierbarkeit, die wir durch den Abgleich der Modellierungen mit den physikalischen Parametern der Prototypen sicherstellen. Der Gerätepark des CTFT – Center of Thin Film Technology – bietet die dafür erforderlichen umfangreichen Analysemethoden zur geometrischen und physikalischen Vermessung von Proben, die wir gerne auch im Rahmen von Kooperationen unseren Partnern und Kunden zur Verfügung stellen.
Wir bieten Auftragsforschung und Innovationen in folgenden Kompetenzfeldern an:
Kontakt
DI Dr. Rudolf Heer
T: +43 50550 4300
F: +43 50550 4399
AIT Austrian Institute of Technology GmbH
Tech Gate Vienna
rudolf.heer@ait.ac.at
T: +43 50550 4300
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rudolf.heer@ait.ac.at
